где f*(M) и f(M) – кривые задержания дефектной мембраны и ее селективных пор, соответственно, а D₂ – параметр, характеризующий дефектность количественно (рис. 5).

Из вышесказанного следует, что, исходя из кривой задержания дефектной мембраны, можно определить такие характеристики селективных пор, как MWCO и дисперсию кривой их задержания. Величины M_L и s определяются стандартным методом [8] после нормировки кривой f*(M) на 1 (рис. 5).

Исследование дефектности УФ мембран методом калибровки и сопоставление этих данных с исследованием тех же мембран комбинированным методом продавливания–фильтрации и методом сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) было проведено в [31]. На рис. 6 приведены кривые задержания исследованных мембран c разным уровнем дефектности.

Как видно из рис. 6, мембрана 22 характеризуется обычной кривой задержания, достигающей насыщения при f(M) = 1, что говорит об отсутствии дефектов в этой мембране. Такой вывод подтверждается данными комбинированного метода, а также данными СЭМ (см. табл. 3).

Кривая задержания мембраны 23 испытывает насыщение на уровне f(M) = 0,4, что свидетельствует о наличии микроскопических дефектов с уровнем Д₂ = 0,6. Такая оценка также подтверждена данными комбинированного метода и СЭМ, в соответствии с которыми мембрана 23 характеризуется наличием отдельных дефектов c размерами ~0,3 мкм (табл. 3).

Наконец, мембрана 24, строго говоря, не подпадает под определение дефектного ультрафильтра, поскольку в ней отсутствуют селективные поры с распределением, ограниченным диапазоном задержания УФ мембран (кривая задержания не испытывает насыщения до М ~10⁶ г/моль). Эта мембрана может быть скорее отнесена к микрофильтрам с аномально широким РПР. Такой вывод также подтвержден данными контрольных методов. Распределение пор по размерам для этой мембраны оказывается сдвинутым в область размеров пор, характерных для микрофильтров (0,2–1,6 мкм) (табл. 3).

[На следующий раздел] [На Содержание]

Copyright ©