Л.Т. Бугаенко, С.М. Рябых*, А.Л. Бугаенко

Почти полная система средних ионных кристаллографических радиусов и ее использование для определения потенциалов ионизации

Проведен сравнительный анализ имеющихся в литературе систем эмпирических (кристаллографических) ионных радиусов. Показано, что все системы могут быть совмещены, если принять радиус иона О⁼ равным 0,140 нм. Выбор радиуса иона кислорода определяется равенством значений межатомных расстояний ион металла–ион кислорода в кристаллах оксидов и ион металла–атом кислорода в кристаллогидратах и в концентрированных водных растворах. Ионные радиусы по совокупности всех рассмотренных систем эмпирических ионных радиусов имеют неопределенность в 0,002–0,005 нм. Предложен новый метод определения ионных радиусов элементов в нестандартной валентности: из эмпирической зависимости электронной плотности атомов элемента в данном валентном состоянии от радиуса атома получено двухпараметровое уравнение, связывающее ионные радиусы элементов IV–VII периодов Периодической системы Менделеева в двух валентных состояниях, позволяющее вычислить радиус иона, который не может быть определен рентгенографически из-за отсутствия стабильных соединений в этом валентном состоянии. Рассчитаны ионные радиусы для всех элементов IV–VII периодов во всех валентных состояниях, и с их учетом построена почти полная система ионных радиусов. Подтверждено, что имеется линейная зависимость между зарядом ядра атома и обратным ионным радиусом. Показано, что имеется линейная зависимость корня квадратного из потенциала ионизации от обратного ионного радиуса. Оценены пока экспериментально не определенные потенциалы ионизации 78 ионов различных элементов.

  Полный текст статьи в формате PDF

Вестник Московского Университета.
Химия 2008, том 49, № 6, стр. 363-388