| ВВЕДЕНИЕ |
3 |
| Часть I.ПРИРОДА И СВОЙСТВА Х-ЛУЧЕЙ |
8 |
| 1.1. Открытие В Рентгена |
8 |
| 1.2. Свойства X лучей |
13 |
| 1.3. Природа Х-лучей |
13 |
| 1.4. Уравнения дифракции |
18 |
| 1.5. Модель дифракции У.Л. и У.Г.Брэггов |
20 |
| 1.6. Дальнейшая информация об X лучах |
23 |
| 1.7. Спектр рентгеновской трубки |
25 |
| 1.8. Поглощение рентгеновских лучен |
29 |
| Вопросы и задачи к части I |
39 |
| Часть II РЕНТГЕНОФАЗОВЫЙ АНАЛИЗ МИНЕРАЛОВ |
36 |
| 2.1. Способы получения порошковых рентгенограмм |
36 |
| 2.1.1. Рентгеновская съемка в камере Дебая - Шеррера - Халла |
36 |
| 2.1.2. Рентгеновская съемка в камере Гинье |
43 |
| 2.1.3. Порошковые дифрактомстры |
47 |
| 2.2. Индицировапис рентгенограмм кристаллов кубической сингонии |
55 |
| 2.3. Обратная решетка |
57 |
| 2.4. Модель дифракции через представления о сфере Эвальда |
59 |
| 2.5. Индицированис рентгенограмм кристаллов |
60 |
| 2.6. Пример расчета дсбасграммы |
62 |
| 2.7. Точность расчета рентгенограмм |
63 |
| 2.8. Рентгеновская диагностика минералов |
67 |
| 2.9. Количественный фазовый анализ |
73 |
| 2.10. Практические приемы,используемые при рентгенографии некоторых породообразующих минералов |
76 |
| 2.10.1. Определение состава и структурного состояния полевых шпатов |
77 |
| 2.10.2. Рентгеновская диагностика слоистых силикатов |
88 |
| 2.10.3 Определение состава пирротина,арсснопнрита и пирита по рентгенографическим данным |
99 |
| 2.10.4. Исследование состава кальцита и доломита по рентгенографическим данным |
106 |
| 2.11. Определение размеров кристаллитов (областей когерентного рассеяния) н микронапряжений |
112 |
| Вопросы и задачи к части II |
116 |
| Часть III.ОСНОВНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ КИНЕМАТИЧЕСКОЙ ТЕОРИИ РАССЕЯНИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ |
118 |
| 3.1. Основные типы рассеяния рентгеновских лучей |
118 |
| 3.2.Нсупругое рассеяние рентгеновских лучей |
120 |
| 3.3. Упругое рассеяние рентгеновских лучей |
123 |
| 3.3.1. Рассеяние электроном поляризованного излучения |
124 |
| 3.3.2. Рассеяние электроном пеполяризованного излучения |
126 |
| 3.3.3. Рассеяние рентгеновских лучен атомом |
128 |
| 3.3.4. Рассеяние рентгеновских лучей кристаллом Структурная амплитуда |
130 |
| 3.4. Интегральная интенсивность и фактор Лоренца |
136 |
| 3.5.Интенсивность отражений от полнкристаллических образцов и фактор повторяемости |
139 |
| 3.6.Закономерные погасания рефлексов и определение пространственной группы |
140 |
| 3.6.1. Объемно центрированная ячейка |
142 |
| 3.6.2.Гранецентрированная ячейка |
142 |
| 3.6.3.Базоцентрированная ячейка |
143 |
| 3.6.4. Погасания при наличии в структуре винтовой оси 21 |
144 |
| 3.6.5.Погасания при наличии плоскостей скользящего отражения |
145 |
| 3.7Закон Фридсля |
146 |
| 3.8.Влияние температуры на интенсивность брэгговских отражений |
146 |
| 3.9.Сопоставление теоретического и экспериментального рептгеидифракционного спектра (па примере флюорита) |
148 |
| 3.10.Программа ' Lazy Pulvеrix ' для расчета теоретического рентгендифракцпошюго спектра (на примере каминита Mg[SO4](OH)) |
151 |
| Вопросы н задачи к части III |
157 |
| Часть IV.РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ КРИСТАЛЛОВ |
159 |
| 4.1.Первая структура расшифровки |
159 |
| 4.2. Монокристальная дифрактомстрия |
162 |
| 4.3.Обработка экспериментальных данных полученных в дифрактометрс |
168 |
| 4.3.1. Усреднение отражений |
168 |
| 4.3.2.Аномальное рассеяние |
169 |
| 4.3.3.Отбраковка отражений |
172 |
| 4.3.4. Поправка на поглощение |
173 |
| 4.3.5.Перестановка осей |
176 |
| 4.4.Метод "тяжелого атома" в расшифровке кристаллических структур |
178 |
| 4.4.1.Ряды Фурье и их применение для описания периодической структуры кристаллов |
178 |
| 4.4.2. Современное состояние работ по нахождению позиций "тяжелого" атома |
188 |
| 4.4.3.Функция Патерсона н се свойства |
188 |
| 4.4.4.Обострение функции Патерсона |
191 |
| 4.4.5.Симметрия функции Патерсона |
193 |
| 4.4.6.Систематический анализ функции Патерсона, основанный на связи P(uvw) с симметрией кристалла |
194 |
| 4.4.7. Харкеровские сечения |
197 |
| 4.4.8.Основные понятия о суперпозиционных методах |
200 |
| 4.4.9.О целесообразности использования метода |
202 |
| 4.4.10. Пример выявления атомных позиций на основе функции Патерсона |
203 |
| 4.5.Электронная плотность |
205 |
| 4.5.1.Ошибки связанные с обрывом ряда, при расчете функции электронной плотности |
206 |
| 4.5.2. Разностные синтезы Патерсона и электронной плотности |
208 |
| 4.6.Статистика интснсивностсй и определение пространственной группы |
209 |
| 4.7.Прямые методы структурной расшифровки |
215 |
| 4.7.1.Предварительная иллюстрация прямых методов |
216 |
| 4.7.2. Неравенства Харкера Каспера |
219 |
| 4.7.3. Структурный инвариант |
223 |
| 4.7.4. Равенство Ссйра |
224 |
| 4.7.5.Зависимость знаков структурных амплитуд от выбора начала координат в элементарной ячейке |
226 |
| 4.8.Уточнение структуры 229 |
|
| 4.8.1.Температурный фактор |
230 |
| 4.8.2.Выявление эпантиоморфных модификаций или уточнение абсолютной конфигурации структуры |
235 |
| 4.8.3.Расчет локального баланса валентных усилий |
236 |
| 4.9.Диффузное рассеяние и его роль в исследовании структурных дефектов |
240 |
| Вопросы н задачи к части IV |
244 |
| Часть V.НОВЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА МИНЕРАЛОВ |
250 |
| 5.1.Использование синхротрошгого излучения |
250 |
| 5.2.Дифракция при высоких давлениях, минералы глубинных геосфер |
256 |
| 5.2.1.Состав верхней мантии |
259 |
| 5.2.2.Состав мантии ниже границы 670 км |
262 |
| 5.3.Изучение усложняющих реальную структуру явлений, структурная модуляция |
265 |
| 5.4.Метод Ритвельда в структурном анализе |
272 |
| 5.5.Электронная кристаллохимия |
280 |
| 5.5.1. Деформационная электронная плотность |
281 |
| 5.5.2. Прецизионные измерения интснсивиостсп дифракционных отражений |
282 |
| 5.5.3. Интерпретация карт δρ(xyz) |
284 |
| ЗАКЛЮЧЕНИЕ |
287 |
| РЕКОМЕНДУЕМАЯ ЛИТЕРАТУРА |
|
| Основная литература |
288 |
| Дополнительная литература |
288 |
| Ответы и решения задач |
289 |
